Über uns

Über uns

Seit mehr als 20 Jahren entwickelt, produziert und modernisiert Hesse Instruments softwaregestützte thermische Analysegeräte für die Materialprüfung. Besondere Expertise besitzen wir im Bereich der Erhitzungsmikroskopie: Unsere Erhitzungsmikroskope und die zugehörige Software werden stetig entwickelt und weltweit vertrieben.

Dafür stehen wir

Präzision

Im Vordergrund steht das Messergebnis. Ob in der Forschung, Prozessüberwachung oder Qualitätsprüfung: Auf Basis der Messergebnisse werden grundlegende und weitreichende Entscheidungen getroffen. Unser Anspruch ist, Ihnen ein Analysegerät zur Verfügung zu stellen, das präzise und verlässliche Ergebnisse liefert.

Zuverlässigkeit

Qualität – Made in Germany. Unsere Geräte sollen Ihnen zuverlässigen Dienst erweisen. Dafür verwenden wir qualitativ hochwertige und langlebige Komponenten, die wir sorgfältig testen. Ganz im Sinne von Klasse statt Masse bieten wir Ihnen ausschließlich Lösungen, die funktionieren und halten, was wir versprechen.

Kundenfreundlichkeit

Wir möchten sicherstellen, dass Sie unsere Produkte so einfach und effizient wie möglich nutzen können. Hierfür steht Ihnen ein Team aus qualifizierten und erfahrenen Technikern und Ingenieuren beratend zur Seite. Wir unterstützen Sie bei akuten Problemen oder Fragestellungen und entwickeln gemeinsam Sonderlösungen für das Erhitzungsmikroskop oder Messkonzepte, die auf Ihren individuellen Bedarf zugeschnitten sind.

Hesse Instruments weltweit

Nach der Fertigung in Deutschland werden unsere Produkte in Europa, Asien, Nordamerika und Südamerika vertrieben. Hierbei unterstützt uns ein Netz aus langjährigen und verlässlichen Vertriebspartnern. Um die bestmögliche Betreuung von Kunden vor Ort zu gewährleisten, bieten diese mit ihren kompetenten und geschulten Technikern sowohl praktische, als auch beratende Unterstützung in der Bedienung unserer Produkte.

Unternehmensgeschichte

Hesse Instruments wurde 1992 von Dr. Axel Hesse in Osterode gegründet. Ziel des damaligen, zweiköpfigen Ingenieurbüros war es, Kunden in verschiedenen Anwendungsbereichen der Materialprüfung zu beraten und Software mit zugehöriger Messtechnik für Thermoanalyse-Geräte zu entwickeln. Unter anderem wurden Lösungen für Dilatometer, Druckerweichungsapparaturen, Heißbiegeapparaturen, Auswertung von Weibull-Statistiken und für das Erhitzungsmikroskop der Firma Leitz realisiert.

Im Jahr 2000 übernahm Dr. Hesse das seit Jahrzehnten bewährte und weltweit bekannte Erhitzungsmikroskop des früheren Herstellers Leitz (bzw. Leica ab 1998). Das Gerät wurde grundlegend technisch überarbeitet und war seit 2001 als Erhitzungsmikroskop Typ EM201 in einer technisch aktuellen Version weltweit verfügbar. In den folgenden Jahren wurde es kontinuierlich weiter entwickelt.

Im Jahr 2015 brachte Hesse Instruments die neue Erhitzungsmikroskop-Software EMI III auf den Markt, die nun standardmäßig in neuen Geräten des Typs EM301 installiert ist und weltweiten Absatz findet. Das EM301 ist nach dem EM201 das einzige aktuelle Nachfolgeprodukt des renommierten Leitz-Erhitzungsmikroskops.

Heute bestehen wir aus einem kleinen, engagierten Team mit qualifizierten Ingenieuren und Technikern. Wir setzen unser Wissen und unsere Erfahrung für hochwertige Produkte ein – zur langfristigen Zufriedenheit unserer Kunden.

Entwicklung auf einen Blick

1992

Gründung von Hesse Instruments – Dr. Axel Hesse

ab 1998 bis 2000

Durchführung von werkstoffkundlichen Projekten

Entwicklung von Software mit zugehöriger Messtechnik für

  • Schleppthermoelemente
  • Heißbiegeapparaturen

Entwicklung von Software, Messtechnik und Ofensteuerungen zur Automatisierung von

  • Druckerweichungsapparaturen
  • Dilatometern
  • Simultanthermoanalyse-Geräten
  • Einzelgranalien-Prüfgeräten
  • Vierfach-Dilatometern
  • Erhitzungsmikroskopen der Firma Leitz (Bildanalysesysteme)

Entwicklung eines Rohrofens mit Molybdän-Disilizid-Heizleiter mit extra hoher Heizrate für Erhitzungsmikroskope der Firma Leitz

ab 1998

Vertrieb von Bildanalysesystemen für Erhitzungsmikroskope der Firma Leitz

  • Modernisierung von bestehenden Geräten
  • Ausstattung von neuen Geräten in Kooperation mit Firma Leitz

2000

Erwerb von Zeichnungen und Rechten für das Erhitzungsmikroskop von Firma Leitz

ab 2000

Entwicklung des Nachfolgemodells EM201 des Leitz-Geräts

2001

Das Erhitzungsmikroskop EM201 ist weltweit verfügbar

ab 2001

Kontinuierliche Weiterentwicklung des EM201, u.a.:

  • Rohrofen mit Rhodium-Heizleiter bis 1750 °C
  • Rohrofen mit Molybdän-Disilizid-Heizleiter bis 1700 °C

Modifikationen des EM201, u.a.:

  • Ofen mit vergrößerter Messzelle auf 30 mm Durchmesser
  • Hochtemperatur-Apparatur zur Untersuchung von elektrischer Leitfähigkeit
  • Ofen mit vergrößerter Messzelle auf 42 mm Durchmesser mit angepasster Optik

2015

Das Erhitzungsmikroskop EM301 mit der Erhitzungsmikroskop-Software EMI III ist weltweit verfügbar.

News

Sonderrabatt für Upgrade auf Erhitzungsmikroskop-Software EMI III bis 30.09.2022

Aufgrund der Änderungen zum Service und Support von EMI 2 bieten wir unseren Kunden bis zum 30.09.2022 exklusiv folgende Sonderaktion an:
Sonderrabatt für das Upgrade auf die aktuelle Erhitzungsmikroskop-Software EMI III
Reduzierung des Basispreises von 7.650,00 € auf 4.995,00 €
Inklusive vorkonfiguriertem Messplatz-Rechner mit EMI III und Kamera nach Stand der Technik

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Extrem geringe Heizraten – Neues Modul für die Erhitzungsmikroskop-Software EMI III

Das neue Modul “Erweiterte Heizraten” für die Erhitzungsmikroskop-Software EMI III bietet Ihnen die Möglichkeit, Probekörper langsam und gleichzeitig kontrolliert aufzuheizen. Realisiert wird diese Option durch die Umstellung der Einheiten von Kelvin pro Minute (K/min) auf Kelvin pro Stunde (K/h). Mit dem neuen Modul können Sie die minimale Heizrate von 0,1 K/min auf 0,0017 K/min, bzw….

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Neue Applikationsberichte – Anwendungsbeispiele für das Erhitzungsmikroskop

Erhitzungsmikroskope können für vielseitige Aufgabenstellungen verwendet werden. Um unseren Kunden detaillierte Einblicke in die Möglichkeiten zu geben, die das Erhitzungsmikroskop EM301 bietet, haben wir eine neue Serie von Applikationsberichten zu den Themen Materialcharakterisierung, Geräteeigenschaften und der Untersuchung des Einflusses von Messparametern erstellt.

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