Sonderaktion zum Upgrade auf Erhitzungsmikroskop-Software EMI III

Aufgrund der Änderungen zum Service und Support von EMI 2 bietet Hesse Instruments bis zum 30.09.2022 eine Sonderaktion für das Upgrade EMI III.



Hauptmerkmale

Allgemeine Informationen

Folgende Bedingungen gelten exklusiv bis zum 30.09.2022 für Kunden mit Erhitzungsmikroskopen mit EMI 2:

  • Sonderrabatt für das Upgrade auf die aktuelle Erhitzungsmikroskop-Software EMI III
  • Reduzierung des Basispreises von 7.650,00 € auf 4.995,00 €
  • Inklusive vorkonfiguriertem Messplatz-Rechner mit EMI III und Kamera nach Stand der Technik

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Installation des Upgrades im Rahmen der Sonderaktion

Die Installation des Upgrades wird von unseren qualifizierten Fachkräften durchgeführt und enthält standardmäßig eine Wartung des gesamten Erhitzungsmikroskops.

Grund hierfür ist die höhere Auflösung von EMI III gegenüber EMI 2: Mangelhafte Justierung oder Reinigung des Erhitzungsmikroskops haben einen größeren Einfluss auf Ihr Messergebnis.

Nur mit unserem Installations- und Wartungsservice können wir gewährleisten, dass die Qualität Ihrer Messergebnisse denen unserer Abnahmemessungen gleicht und dass Sie das volle Potential des Upgrades nutzen können.

Upgrades für modernisierte Leitz-Geräte

Auch Kunden mit Erhitzungsmikroskopen der Firma Leitz / Leica sind in die Sonderaktion eingeschlossen.

Allerdings müssen hier gegebenenfalls technische Sonderheiten berücksichtigt werden. Z.B. kann es erforderlich sein, eine leistungsfähigere Halogenleuchte zu installieren, Stative anzupassen oder auszutauschen.

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Vorteile des Upgrades EMI III auf einen Blick

Leistungssteigerung

  • Hard- und Software auf Stand der Technik
  • Hohe Leistungsfähigkeit der Bildanalyse
  • Hochentwickelte Auswerte-Algorithmen
  • Akkurate Ermittlung der Kontur der Probekörper durch Grauwertanalyse
  • Feine Auflösung der Grauwertanalyse bei der automatischen Bildanalyse
  • Netzwerkfähige CCD-Kamera
  • Digitale und schnellere Übertragung der aufgenommenen Bilder
  • keine Umwandlungsverluste  
  • Steigerung der Bildqualität

Steigerung der Effizienz

  • Strukturierte, übersichtliche Bedienoberfläche
  • Einfache und intuitive Bedienung
  • Kurze Einarbeitungszeiten für Mitarbeiter
  • Übersichtliche Darstellung von Messungen und Messergebnissen
  • Größerer Funktionsumfang als EMI 2
  • Erleichterte Bedienung
  • Erweiterte Kontrolle bei der Vorbereitung und Auswertung von Messungen
  • Einfachere und ausführlichere Dokumentation von Ergebnissen
  • Methodenverwaltung
  • Zeitersparnis bei der Messungsvorbereitung
  • Reduzierung von systematischen Fehlern
  • Automatische Auswertung und Dokumentation
  • Optimale und schnelle Auswertung von Messungen
  • Automatische Generierung von Prüfberichten
  • Interaktive Darstellung von Messergebnissen
  • Verknüpfung von Diagramm, Bildern und Zahlenwerten
  • Schnelle individuelle Auswertung
  • Individuelle Gestaltung von Diagrammen und Prüfberichten

Kontrolle und Flexibilität

  • Konfiguration von Auswerteparametern
  • Direkter Einfluss auf die automatische Bildanalyse
  • Anpassung der Parameter an unterschiedliche, auch untypische Messkonzepte möglich
  • Nachverfolgbarkeit von Änderungen bei der Messungsauswertung
  • Alle Änderungen an einer bestehenden Messung werden automatisch dokumentiert
  • Reduzierung von systematischen Fehlern
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