Erhitzungsmikroskop-Upgrade auf EMI III

EMI III ist der Nachfolger der Bildanalyse-Software EMI 2 von Hesse Instruments. Kunden, die bereits ein Erhitzungsmikroskop von Hesse Instruments oder der Firma Leitz / Leica mit EMI 2 besitzen, können ihr System einfach auf EMI III aufrüsten. 



Hauptmerkmale

Vergleich von EMI 2 und EMI III

Die Erhitzungsmikroskop-Software EMI III wurde auf Basis der bewährten Bildanalyse-Software EMI 2 von Hesse Instruments entwickelt. Alle Funktionen von EMI 2 wurden auch in EMI III übernommen und der Funktionsumfang darüber hinaus erweitert, um die Bedienung zu erleichtern und weitere Optionen zur Vorbereitung, Durchführung und Auswertung von Messungen zu bieten.

Neben dem erweiterten Funktionsumfang wurde die Leistungsfähigkeit von EMI III im Vergleich zu EMI 2 stark erhöht. Die Software wurde für aktuelle Betriebssysteme und Hardware konzipiert und ermöglicht so unter anderem eine genauere Auflösung bei der Bildanalyse und ein höheres Speichervolumen für Schattenbilder des Probekörpers.

Lieferumfang und Installation des Upgrades

Um die Steigerung der Leistungsfähigkeit von EMI III zu gewährleisten, umfasst das Upgrade auf EMI III neben der Erhitzungsmikroskop-Software EMI III die folgenden Hardware- und Software-Komponenten:

  • Messplatz-Rechner: EMI III wird fertig installiert auf einem vorkonfigurierten und einsatzbereiten Messplatz-Rechner ausgeliefert. Neben Betriebssystem und Erhitzungsmikroskop-Software ist der Rechner mit allen benötigten Hardware-Schnittstellen ausgestattet
  • Netzwerkfähige CCD-Kamera: Eine leistungsfähigere Kamera mit schnellerer Übertragung liefert Bilder mit einer Auflösung, die für die neu entwickelten Auswertealgorithmen benötigt wird. Die Kamera ist mit dem bestehenden Makro-Objektiv des EM201 kompatibel.
  • Temperaturmessverstärker ODER ModBus-Modul: Je nach Bedarf und Gegebenheiten wird die Ofensteuerung von Hesse Instruments zur Kommunikation mit EMI III mit einem neuen Temperaturmessverstärker oder einem neuen ModBus-Modul ausgestattet.
  • EMI 2 - Datenimportmodul: Das Upgrade auf EMI III beinhaltet ein Datenimportmodul, welches den Import und somit die Untersuchung von EMI 2-Messungen in EMI III ermöglicht.

Die Installation des Upgrades ist so ausgelegt und dokumentiert, dass Sie sie problemlos selber ausführen können. Nach einmaliger Justierung ist das Erhitzungsmikroskop mit dem Upgrade einsatzfähig.

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Vorteile auf einen Blick

Leistungssteigerung

  • Hard- und Software auf Stand der Technik
  • Hohe Leistungsfähigkeit der Bildanalyse
  • Hochentwickelte Auswerte-Algorithmen
  • Akkurate Ermittlung der Kontur der Probekörper
  • Feine Auflösung bei der automatischen Bildanalyse
  • Netzwerkfähige CCD-Kamera
  • Digitale und schnellere Übertragung der aufgenommenen Bilder
  • keine Umwandlungsverluste  
  • Steigerung der Bildqualität

Steigerung der Effizienz

  • Strukturierte, übersichtliche Bedienoberfläche
  • Einfache und intuitive Bedienung
  • Kurze Einarbeitungszeiten für Mitarbeiter
  • Übersichtliche Darstellung von Messungen und Messergebnissen
  • Größerer Funktionsumfang als EMI 2
  • Erleichterte Bedienung
  • Erweiterte Kontrolle bei der Vorbereitung und Auswertung von Messungen
  • Einfachere und ausführlichere Dokumentation von Ergebnissen
  • Methodenverwaltung
  • Zeitersparnis bei der Messungsvorbereitung
  • Reduzierung von systematischen Fehlern
  • Automatische Auswertung und Dokumentation
  • Optimale und schnelle Auswertung von Messungen
  • Automatische Generierung von Prüfberichten
  • Interaktive Darstellung von Messergebnissen
  • Verknüpfung von Diagramm, Bildern und Zahlenwerten
  • Schnelle individuelle Auswertung
  • Individuelle Gestaltung von Diagrammen und Prüfberichten

Kontrolle und Flexibilität

  • Konfiguration von Auswerteparametern
  • Direkter Einfluss auf die automatische Bildanalyse
  • Anpassung der Parameter an unterschiedliche, auch untypische Messkonzepte möglich
  • Nachverfolgbarkeit von Änderungen bei der Messungsauswertung
  • Alle Änderungen an einer bestehenden Messung werden automatisch dokumentiert
  • Reduzierung von systematischen Fehlern
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