Software-Modul für EMI III: Erweiterte Heizraten

Software-Modul für EMI III: Erweiterte Heizraten

Das Software-Modul für erweiterte Heizraten ist eine Erweiterung für die Erhitzungsmikroskop-Software EMI III mit der extrem geringe Heizraten bis 0,1 K/h, bzw. 0,0017 K/ min realisiert werden können. So können Sie Erhitzungsmikroskop-Messungen mit prozessnahen Heizprofilen durchführen und Temperatur-induzierte Materialprozesse mit höchster Genauigkeit beobachten.

Hauptmerkmale

Das Modul für erweiterte Heizraten kann einfach in eine bestehende Version von EMI III integriert werden. Durch die Installation werden der Funktionsumfang und die Bedienoberfläche in EMI III so erweitert, dass während der Messungsvorbereitung Heizprogramme mit geringen Heizraten eingestellt werden können.

Sie können mit dem Modul während der Eingabe des Heizprofils bei der Messungsvorbereitung die Einheit der Heizrate zwischen Kelvin pro Minute (K/min) und Kelvin pro Stunde (K/h) umschalten. Die minimal mögliche Heizrate wird so von 0,1 K/min auf 0,1 K/h gesenkt, was einer Heizrate von 0,0017 K/min entspricht. Da diese Heizraten einem Halten der Ofentemperatur nahekommen, wurde ein ausgeklügelter Sicherheitsmechanismus implementiert, der verhindert, dass Öfen zu lange bei kritischen Temperaturen gefahren werden.

So können Heizprofile eingestellt werden, die industriellen Sinter- oder Entbinderungsprozessen entsprechen. Auch können Temperaturbereiche mit schnell ablaufenden oder kritischen Materialprozessen genau beobachtet werden. Der Einsatz des Moduls bietet sich daher besonders im Bereich der Forschung und Entwicklung neuer Materialien oder Prozesse als auch in der Qualitätskontrolle zur Ermittlung von Prozessfehlern an.

Vorteile auf einen Blick

Modul für Erhitzungsmikroskop-Software EMI III

  • Leichte Implementierung der neuen Funktionen in bestehende Software

  • Einfache Erweiterung des Einsatzbereichs Ihrer Software

Einstellen geringer Heizraten bis 0,1 K/h

  • Anpassung von Heizprofilen an reale Prozesse

  • Genaue Beobachtung kritischer Materialprozesse