Erhitzungsmikroskop-Software EMI III

Die Erhitzungsmikroskop-Software EMI III ist der Kern des Erhitzungsmikroskops EM301: Sie automatisiert den Betrieb des Erhitzungsmikroskops und bietet Zugriff auf alle wesentlichen Funktionen rund um eine Messung. EMI III kann außerdem als Upgrade in bestehende Erhitzungsmikroskope von Hesse Instruments oder Leitz integriert werden.

• Vorteile auf einen Blick
• Broschüre zum Erhitzungsmikroskop

Die Erhitzungsmikroskop-Software EMI III basiert auf Hesse Instruments' bewährter Bildanalyse-Software EMI 2 und ist seit 2015 fester Bestandteil unserer Erhitzungsmikroskope. Ziel der Software ist es, Arbeitsschritte am Erhitzungsmikroskop zu vereinfachen und sicherer zu gestalten, sowie die Qualität der gewonnenen Messergebnisse zu erhöhen.

Als zentrale Bedienoberfläche des Erhitzungsmikroskops übernimmt EMI III Steuerungs-, Bedienungs-, und Verwaltungsfunktionen. Nahezu alle Schritte vor und während einer Messung bis hin zur Auswertung und Dokumentation werden über EMI III durchgeführt. Der Bediener kann so alle Informationen und Funktionen gebündelt an einer Stelle ausführen und abrufen.

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Die Auswertung von Messungen erfolgt per Analyse der aufgenommenen Schattenbilder des Probekörpers. Auswertealgorithmen ermöglichen es, Proben mit unterschiedlichstem Materialverhalten auszuwerten. Die Analyse wird durch den Einsatz moderner Hardware gestützt, wodurch genaue und präzise Ergebnisse geliefert werden.

Die ermittelten Ergebnisse werden in Form von Bildern, Diagrammen, Tabellen und Videos dargestellt. Um die Ansicht und Auswertung der Ergebnisse zu vereinfachen, erfolgt die Darstellung interaktiv: Wenn Sie beispielsweise einen Messwert in einem Diagramm auswählen, werden automatisch das entsprechende Bild und Zahlenwerte des entsprechenden Datensatzes in der Tabellenansicht gezeigt.

EMI III ermöglicht eine quantitative Auswertung des Sinterverhaltens, Erweichungsverhaltens, Schmelzverhaltens und Benetzungsverhaltens von Materialien. Hierfür werden unter anderem die charakteristischen Temperaturen aus verschiedenen Normen zur Untersuchung des Schmelzverhaltens von Aschen verwendet. Zusätzlich berechnet die Software automatisch verschiedene geometrische Parameter der Probe, wie z.B. Höhe, Breite, Fläche, Eckwinkel, Kontaktwinkel oder ein Maß für die Rundheit der Probe. 

Anwendungsbeispiele für Messungen mit EMI III

EMI III bietet außer der Probenpräparation und der manuellen Bedienung des Erhitzungsmikroskops sämtliche Funktionen für dessen Gebrauch:

Steuern und Anzeigen

• Eingabe und Verwaltung von Heizprogrammen
• Übermittlung des Heizprogramms an die Ofensteuerung
• Anzeige des Kommunikationsstatus mit dem Erhitzungsmikroskops
• Anzeige von Messergebnissen in Echtzeit

Messen und Auswerten

• Messungsvorbereitung: Einrichten des Kamerabilds und Eingabe von Messparametern
• Automatische Messungsdurchführung (nach Norm)
• Automatische Datenerfassung
• Automatische Auswertung in Echtzeit
• Automatische Beendigung von Messungen nach definierten Endekriterien
• Automatische, normkonforme Ermittlung von charakteristischen Temperaturen
• Unterstützung bei manueller Auswertung nach der Messung

Dokumentieren und Darstellen

• Interaktive Darstellungsmedien (Tabelle, Diagramm, Bilder, Video)
• Automatische Erstellung von Prüfberichten
• Automatische Erstellung von individuellen Berichten nach Benutzervorgaben

Verwaltung

• Messungen in der Messungsdatenbank
• Methoden zum Speichern von Messparametern
• Benutzer und Rechte
• Funktion zum Archivieren von Messungen

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